链全球精工,赋中国智造!
咨询热线:15813800844

品牌:NanoAndMore(原子力显微镜探针及纳米技术耗材专业分销商);制造商:NanoSensors (TM)(全球** AFM 探针制造商)。产品:PPP-SEIHR-20 特殊轻敲模式 AFM 探针(Special Tapping Mode AFM Probe);梁式(Beam)悬臂,弹簧常数 15N/m,共振频率 130kHz;检测器侧反射铝涂层(Reflective Aluminum),针尖侧无涂层;标准针尖形状,带对准槽(Alignment Grooves);每套装 20 支探针;适用于原子力显微镜(AFM)轻敲模式成像及纳米尺度表面表征。
表格
| 项目 | 参数 |
|---|---|
| 型号 | PPP-SEIHR-20 |
| 产品类型 | 特殊轻敲模式 AFM 探针(Special Tapping Mode AFM Probe) |
| 制造商 | NanoSensors (TM) |
| 悬臂形状 | 梁式(Beam) |
| 弹簧常数 | 15 N/m |
| 共振频率 | 130 kHz |
| 检测器侧涂层 | 反射铝(Reflective Aluminum) |
| 针尖侧涂层 | 无(None) |
| 针尖形状 | 标准(Standard) |
| 对准槽 | 有(Yes) |
| 每套装数量 | 20 支探针 |
| 品牌 / 产地 | NanoAndMore / NanoSensors |
15N/m 高弹性常数 + 130kHz + 梁式悬臂 + NanoSensors 制造,轻敲模式成像稳定
反射铝涂层检测器侧 + 标准针尖 + 对准槽,AFM 光路对准及成像便捷
20 支 / 套 + 特殊轻敲模式设计 + 无针尖侧涂层,纳米表面表征通用
AFM 轻敲模式成像:原子力显微镜轻敲模式(Tapping Mode)表面形貌成像
纳米尺度表面表征:材料、半导体、生物样品纳米级表面分析
科研及质量检测:高校、研究所及工业实验室 AFM 常规检测

版权所有:深圳市安达汇贸易有限公司 地址:深圳市福田区福保街道福保社区槟榔道1号吉虹研发大楼B栋3层301室
电话:15813800844 粤ICP备2025379618号-1