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美国Checkline TI-25MX 超声波壁厚测厚仪
发布时间:2026-04-10

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Checkline TI-25MX 是美国制造高精度超声波壁厚测厚仪,单双面均可测量,适配金属 / 陶瓷 / 玻璃 / 硬塑料,标配 NIST 可追溯校准证书,IP65 防护,支持扫描测厚与多点校准,专为工业无损检测、腐蚀监测、壁厚测量设计。


一、核心基础信息表

核心项规格 / 说明
品牌Checkline
产品型号TI-25MX
产品类型超声波壁厚测厚仪
产地美国(Made in USA)
测量原理脉冲回波式(Pulse-Echo)
防护等级IP65
分辨率0.001 英寸(0.01mm)
标准探头T-102-3300(5MHz 双晶探头)
供电2 节 AA 电池,连续工作 45 小时
质保主机 5 年;探头 90 天
认证CE、NIST 可追溯、MIL-STD-45662A

二、核心技术参数

1. 测量性能参数

2. 环境与结构参数

3. 材料适配参数


三、核心产品特点

  1. 高精度宽量程测量0.001 英寸超高分辨率,量程覆盖 0.63mm 至 914.4mm,单面即可完成壁厚检测。

  2. 智能材料适配8 种预设材料 + 2 组自定义声速,双点校准优化全量程线性度,测量更精准。

  3. 工业级耐用防护IP65 密封防水,铝制抗冲击机身,适配恶劣现场环境,探头可浸水使用。

  4. 双模式高效检测普通测量 + 高速扫描模式,扫描自动捕捉最小厚度,大幅提升检测效率。

  5. 权威校准与长质保标配 NIST 可追溯校准证书,主机 5 年质保,可靠性拉满。

  6. 便捷操作设计密封薄膜按键,背光可调,AA 电池长续航,参数可锁定防误调。


四、典型应用场景


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